薄膜測厚儀通過(guò)直接或間接的方法來(lái)測量薄膜的厚度。以下是測厚儀如何測量薄膜厚度的具體介紹:
1、機械接觸式
原理:機械接觸式測厚儀利用高精度傳感器與薄膜表面接觸,通過(guò)測量傳感器的位移來(lái)確定薄膜的厚度。
特點(diǎn):機械接觸式測厚儀通常具有較高的精度和重復性,適用于各種材料的厚度測量,包括塑料薄膜、紙張、箔片等。
2、光學(xué)非接觸式
原理:光學(xué)非接觸式測厚儀利用光的干涉原理或反射原理來(lái)測量薄膜的厚度。例如,橢偏儀可以通過(guò)分析光在薄膜表面的反射和折射行為來(lái)確定薄膜的厚度。
特點(diǎn):光學(xué)非接觸式測厚儀具有非破壞性和高速度的優(yōu)點(diǎn),適用于透明或半透明薄膜的測量,如氧化物、聚合物等。

3、超聲波測厚儀
原理:超聲波測厚儀通過(guò)發(fā)射超聲波并接收其在薄膜另一側的反射波來(lái)測量薄膜的厚度。根據超聲波在薄膜中的傳播時(shí)間和速度,可以計算出薄膜的厚度。
特點(diǎn):超聲波測厚儀適用于較厚薄膜的測量,具有較深的測量范圍,但精度可能低于其他方法。
4、電磁測厚儀
原理:電磁測厚儀利用電磁感應原理來(lái)測量薄膜的厚度。當探頭靠近導電薄膜時(shí),會(huì )產(chǎn)生電磁場(chǎng),通過(guò)測量電磁場(chǎng)的變化來(lái)確定薄膜的厚度。
特點(diǎn):電磁測厚儀主要用于測量金屬薄膜或涂層的厚度,具有快速、準確的特點(diǎn)。
5、稱(chēng)重法
原理:稱(chēng)重法通過(guò)測量一定面積的薄膜質(zhì)量,然后除以該面積來(lái)計算薄膜的平均厚度。這種方法適用于均勻薄膜的測量。
特點(diǎn):稱(chēng)重法簡(jiǎn)單易行,但需要確保薄膜的質(zhì)量分布均勻,否則會(huì )影響測量結果的準確性。
6、X射線(xiàn)測厚儀
原理:X射線(xiàn)測厚儀利用X射線(xiàn)的吸收或熒光特性來(lái)測量薄膜的厚度。通過(guò)分析X射線(xiàn)穿過(guò)薄膜后的強度變化,可以確定薄膜的厚度。
特點(diǎn):X射線(xiàn)測厚儀適用于各種材料的薄膜測量,包括金屬和非金屬材料,具有高精度和高分辨率的優(yōu)點(diǎn)。
總的來(lái)說(shuō),薄膜測厚儀通過(guò)多種方法來(lái)測量薄膜的厚度,每種方法都有其優(yōu)勢和適用領(lǐng)域。了解這些不同的測量方法,可以幫助用戶(hù)選擇適合自己需求的測厚儀。